双光束相移电子散斑干涉仪，是将两束激光对称照射到漫反射物体的同一表面，表面散射光之间产生互相干涉，通过比较变形前后的干涉图案，可以获得代表物体表面面内位移变化的干涉条纹。结合相移技术，可以使双光束相移电子散斑干涉仪的面内位移测量灵敏度达到纳米级。
条纹图与应力加载曲线
| 技术参数 |
| 型号 | EP-SI-XP
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| 图像采集 | 3072×2048 分辨率，60fps，USB3.0 |
| 镜头 | 16mm定焦镜头 |
| 光源 | 半导体激光器（输出功率50mw、波长532nm） |
| 测量视场 | 120mm×100mm-300mm×250mm |
| 工作距离 | 400 - 1000mm |
| 软件功能 | 具备条纹实时显示以及图像处理功能 |
| 条纹分辨率 | 1/20级条纹（26.6nm、15.8nm）（波长532nm，激光与平面法向夹角30°） |
由于双光束相移电子散斑干涉仪可以方便地将物体表面的面内位移通过干涉条纹表现出来，因此，该仪器不仅是光测力学教学的必备设备，也可用于展示复杂试样表面的面内位移分布，让学生加深理解复杂表面的变形特征，是进行实验教学和创新性教学重要手段。同时由于高灵敏度的测量特点，该仪器也可用于工业产品、复合材料、生物材料等特性检测，以及高温物体变形检测等。